依據標準IEC61000-4-2/EN 61000-4-2/GB?T 17626.2：靜電放電抗擾度試驗

靜電(dian)放電(dian)試驗主要檢查人或(huo)物體在接(jie)觸(chu)設備時所引起(qi)的(de)放電(dian)（直接(jie)放電(dian)），以(yi)及(ji)人或(huo)物體對(dui)設備鄰近(jin)物體的(de)放電(dian)（間(jian)接(jie)放電(dian)）時對(dui)設備工作造成的(de)影響。靜電(dian)放(fang)電(dian)時可以在0.5～20ns的(de)時間(jian)內產生1～50A的放電(dian)電(dian)流。雖然電(dian)流很大但因(yin)持續時間很短，故能量很小(xiao)。所以一般靜電(dian)放電(dian)不會對(dui)人產生(sheng)(sheng)傷害，但對(dui)集(ji)成電(dian)路芯片等電(dian)子產品可能產生(sheng)(sheng)破壞性的危害。

? 靜電(dian)放(fang)電(dian)試(shi)驗(yan)的(de)測(ce)試(shi)等級為：接觸放(fang)電(dian)2kV，4kV，6kV，8kV；空氣(qi)放電：2kV，4kV，8kV，15kV。

依據標準：?IEC61000-4-4/GB?T 17626.4：快速瞬變電(dian)脈沖群抗擾性試驗;

脈沖群抗擾(rao)度測(ce)試，是模擬電網中眾多(duo)機械開關在切換感性負載時所產生的(de)干擾(rao)。這類干擾(rao)的(de)特點是：成群出現的(de)窄脈沖、脈沖的(de)重復頻率較高（kHz～MHz級）、上升沿陡峭（ns級）、單個脈沖的持(chi)續時(shi)間短(duan)暫（10～100ns級(ji)）、幅度(du)達到(dao)KV級。成(cheng)群(qun)出(chu)現的窄(zhai)脈沖可對半導體(ti)器(qi)件的結電容充電，當能量積累到一定程度后(hou)可引起線路或設備出錯。試驗(yan)時將(jiang)脈(mo)沖疊加在(zai)電源線(xian)（通過耦合/去(qu)耦網絡）和(he)通(tong)信線路(lu)（通(tong)過電容耦合夾(jia)），對(dui)設備形成干擾(rao)。

受試設備（EUT）的試驗部(bu)分主要(yao)包括設備的供(gong)電電源端口、保護(hu)接(jie)地(di)（PE）、信號和控制(zhi)端口。

依據標準

??IEC 61000-4-5/GB?T 17626.5：浪涌（沖擊）抗擾(rao)性試驗

浪(lang)涌（沖擊(ji)）抗擾性(xing)試驗(yan)，是模擬自然(ran)界(jie)里的雷擊（間接雷）以及供電線(xian)路(lu)中因大型開關(guan)切(qie)換所(suo)引起的電壓變化對供電線(xian)路(lu)和通信線(xian)路(lu)的影響。浪(lang)涌(yong)試(shi)驗(yan)規定了兩種波形（1.2/50μs和(he)通信波10/700μs）、幅值為0.5kV到4kV，能量特(te)別大(da)，對(dui)EUT的影響(xiang)可能是破壞性(xing)的。10/700μs（俗稱通信波）適(shi)用于長距離對稱通信端口(kou)，1.2/50μs適用于電源線端(duan)口(kou)和其他信號線端(duan)口(kou)。

依(yi)據標準

IEC 61000-4-11/ GB T 17626.11：電壓(ya)暫(zan)降、短時(shi)中斷和電壓(ya)變(bian)化抗擾性(xing)試驗

電壓(ya)暫降和電壓(ya)中斷(duan)是由電網、電力設施的(de)故障(zhang)或負荷(he)突(tu)然出現(xian)大的(de)變化引起(qi)的(de)。電壓(ya)變化是由連接到(dao)電網的(de)負荷(he)的(de)連續變化引起(qi)的(de)。如(ru)果EUT對電源(yuan)電壓變化不能(neng)及時(shi)作出反應，就可(ke)能(neng)引發故障。

本方法適(shi)用于(yu)額定(ding)輸入電流每相不超(chao)過16A連(lian)接到(dao)50Hz/60Hz交流(liu)網絡的電(dian)氣和電(dian)子設(she)備，對于電流大于16A的測試要求，由IEC 61000-4-34標準規定。

電壓暫降的測試等級以%UT（暫降(jiang)后剩余電壓(ya)(ya)為(wei)參考(kao)電壓(ya)(ya)的(de)百(bai)分比）表示：0%，40%，70%，80%，120%。

短時中斷一(yi)般指電(dian)源完全中斷達250個周期（50Hz）或者300個周期(qi)（60Hz）電壓變化，一般指突變到70%后維持1個(ge)周期，再經過25/30個周(zhou)期后恢(hui)復到參考電壓的情況。

測(ce)試儀器示(shi)意圖

一般(ban)單相測試設備，以選擇傳導(dao)瞬態抗干擾綜(zong)合機最為經(jing)濟，例如UCS500N5，UCS500N7，配置抽頭變(bian)壓器后，就能進行測試。

PFS503N

• 獨(du)立式測試設(she)備

• 符合?IEC 61000-4-11?和?IEC 61000-4-34?標準的三相全(quan)兼容測(ce)試系統(tong)

• 適用于三角型(xing)和星型(xing)供(gong)電系(xi)統測(ce)試

• 具備(bei)6個電子開關及(ji)短路(lu)保護功能

• 額(e)定電(dian)壓?3x440V，每(mei)相電流最大可達?100A

• 直流(liu)信(xin)號控制外置(zhi)自耦變(bian)壓器